HS-MWR-SIM无接触少子寿命测试仪是一款功能强大的，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤单点少子寿命测试，其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的，并且单晶硅棒、多晶硅块无须进行特殊处理。少子寿命测试量程从0.1μs到20ms,电阻率量程为>

　　HS-MWR-SIM无接触少子寿命测试仪是一款功能强大的，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤单点少子寿命测试，其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的，并且单晶硅棒、多晶硅块无须进行特殊处理。少子寿命测试量程从0.1μs到20ms,电阻率量程为0.1Ω.cm,,是太阳能电池硅片企业、多晶铸锭企业、拉晶企业*的测量仪器。

　　HS-MWR-SIM无接触少子寿命测试仪是一款功能强大的无接触少子寿命测试仪，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤单点少子寿命测试，其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的，并且单晶硅棒、多晶硅块无须进行特殊处理。少子寿命测试量程从0.1s到20ms,电阻率量程为0.1.cm,,是太阳能电池硅片企业、多晶铸锭企业、拉晶企业*的测量仪器。产品特点■无接触和无损伤测量■可移动扫描头，便于测量■测试范围广：包括硅块、硅棒、硅片等少子寿命测量■主要应用于硅棒硅块、硅片的进厂、出厂检查，生产工艺过程中重金属沾污和缺陷的监控等■性价比高，*程度地降低了企业的测试成本■质保期：1年*工作条件■温度：15-30℃

　　主营产品：少子寿仪，红外探伤仪，氧碳含量仪，椭楄仪，型号测试仪，电阻率测试仪，蓝宝石等检测设备